jesd22a108c

2022年7月28日 — JEDEC JESD22-A108；. 目的：评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力；. 失效机制：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等 ...

标准号: JEDEC JESD22-A108C-2005; 发布: 2005年; 发布单位: (美国)固态技术协会,隶属EIA. 适用范围: 适用的寿命试验规范中应规定以下项目.

JEDEC JESD22-A108C-2005 温度,偏差和操作寿命 · Temperature, Bias, and Operating Life · 作废 · 哪些标准引用了JEDEC JESD22-A108C-2005 · JEDEC JESD22-A108C-2005相似 ...

JESD22-. A108,. JESD85. HTOL. Tj ≥ 125 °C. Vcc ≥ Vccmax. 3 Lots / 77 units. 1000 hrs /. 0 Fail. Early Life Failure Rate. JESD22-. A108,. JESD74. ELFR. Tj ≥ ...

Equipment design, if required, shall provide for mounting of devices to minimize adverse effects while parts are under stress, (e.g., improper heat dissipation) ...

This table briefly describes the changes made to JESD22-A108C, compared to its predecessor,. JESD22-A108-B (December 2000). Page. Term and description of change.

1. 使用寿命(JEDEC JESD22-A108). 使用寿命是一项强应力测试，执行这项测试以通过极端温度和动态电压偏置条件下的应用，加速热活化故障机制。通常其执行温度为125°C，偏 ...

2022年4月23日 — 1 目的. 决定电压和温度对器件随时间的影响。 加速因素（1）电压，（2）温度。 用途：（1）qualification、mortoring.（2）短时间测试作为burn in，作为 ...

2021年1月22日 — 本测试用于确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。它以加速的方式模拟设备的运行条件，主要用于设备鉴定和可靠性监控。一种使用短持续时间的高温偏置 ...